【分析技術上級講座】を開催します。

従来の異物は目視で樹脂系異物、金属系異物と判断しやすく、それに応じて分析機器が選べ、分析自体も比較的容易に行えました。しかしながら、近年、製品への異物クレームは微細化して、判断が難しくなっております。

 　今回は「微小・微量異物の分析方法」を取り上げます。講座を通じて、製造工程や製品での微小・微量異物の分析に必要なサンプリング方法、分析機器の選択方法、分析テクニックを学びます。本講座では、受講者とディスカッションしながら状況に応じた分析機器を適宜選択し進め、実務につながる講座を目指します。

 　研修日程：平成27年1月24日、31日 　9 時～16 時

 　募集人員：３名程度

 　受 講 料：３，０００円（材料代）

 　申し込み締め切り：1月16日（金）

※　先着順に受付、定員に達し次第締め切りします。
※　詳細、申し込みはチラシのダウンロードしてご利用ください。
　　　　　チラシ　⇒　http://www.sirc.or.jp/workshop/pdf/H26UpperBaseAnalyticalChemistry.pdf